【河北麥森訊】常用的粒度測試方法有篩分法、顯微鏡(動態(tài)/靜態(tài)圖象)法、沉降法、光阻法、電阻法、激光法、電子顯微鏡法、透氣法、動態(tài)光散射法、X射線小角散射法等。
1) 篩分法：
優(yōu)點：簡單、直觀、設備造價低、常用于大于40 μm的樣品。
缺點：結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
2) 顯微鏡(圖像)法：
優(yōu)點：簡單、直觀、可進行形貌分析，適合分布窄(最大和最小粒徑的比值小于10：1)的樣品。
缺點：代表性差，分析分布范圍寬的樣品比較麻煩，無法分析小于1 μm的樣品。
3) 沉降法(包括重力沉降和離心沉降)：
優(yōu)點：操作簡便，儀器可以連續(xù)運行，價格低，準確性和重復性較好，測試范圍較大。
缺點：測試時間較長，操作比較繁瑣。
4) 電阻法：
優(yōu)點：操作簡便，可測顆粒數(shù)，等效概念明確，速度快，準確性好。
缺點：不適合測量小于0.1 μm的顆粒樣品，對粒度分布寬的樣品更換小孔管比較麻煩。
5) 激光法：
優(yōu)點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和準確性好，可進行在線測量和干法測量。
缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高，分辨力低。
6) 電子顯微鏡法：
優(yōu)點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進行形貌和結構分析。
缺點：樣品少，代表性差，測量易受人為因素影響，儀器價格昂貴。
7) 光阻法：
優(yōu)點：測試便捷快速，可測液體或氣體中顆粒數(shù)，分辨力高。
缺點：不適用粒徑<1μm的樣品，進樣系統(tǒng)比較講究，僅適合塵埃、污染物或已稀釋好的藥物進行測量，對一般粉體用的不多。
8) 透氣法：
優(yōu)點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。
缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布;不能測小于5μm細粉。
9) X射線小角散射法：用于納米級顆粒的粒度測量。
10) 光子相關譜法(動態(tài)光散射法)：用于納米級顆粒的粒度測量。
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